作者：崔德胜; 陈朝杰; 彭磊; 熊盛阳; 高憬楠瓷介电容器钽电解电容器漏电可靠性选用航天
摘要：分析了近年来发生的电容器漏电失效典型案例，研究了瓷介电容器和钽电解电容器的漏电失效机理，分析表明金属迁移和介质层缺陷是导致电容器产生漏电流的主要原因。以电容器漏电流产生的理论机理为基础，从选择、检验和使用可靠性角度，提出了一系列电容器选型建议、检验准则和使用要求，以确保电容器在航天等高可靠领域的应用。
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