作者：周继松; 雷威x射线成像模型预测bp神经网络影响因素
摘要：研究X射线成像的影响因素如X射线管电压等,并对成像质量进行较为科学的评估预测,对于X射线成像质量的优化控制具有重要意义。我们首先确立了BP神经网络模型的基本框架,之后搭建实验平台获取样本数据并对该网络进行训练,得到X射线成像质量和其影响因素之间的大致关系。实验结果表明,利用该模型得到的预测数据和实际值的平均误差在2%左右。因此,该模型对X射线成像质量的预测是相当有效的。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《电子器件》（CN：32-1416/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子器件》主要刊登真空电子学、微波电子学、光电子学、薄膜电子学、电子显示技术、激光与红外技术、半导体物理与器件、集成电路与微电子技术、光纤技术、真空物理与技术、表面分析技术、传感技术、电子材料与元器件、电光源与照明技术、电子技术应用，并涉及电子科学领域里的最新研究动态。
部级期刊
人气 369567 评论 74
人气 307709 评论 62
人气 268923 评论 66
统计源期刊
人气 155887 评论 73
