作者：梅霜; 李志刚功率模块开关损耗svm小样本
摘要：在研究新能源系统可靠性时,功率模块IGBT的开关损耗的准确预测是非常重要的。采用功率模块的开关动态测试系统进行试验,可以自动调整直流母线电压、集电极电流、门极驱动电压和门极电阻,记录开关动态电压、电流波形,通过处理获取精确的开关损耗值。基于试验数据的基础上,通过SVM算法建立开关损耗模型,改善了现有的基于小样本数据的开关损耗模型。
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《电子器件》（CN：32-1416/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子器件》主要刊登真空电子学、微波电子学、光电子学、薄膜电子学、电子显示技术、激光与红外技术、半导体物理与器件、集成电路与微电子技术、光纤技术、真空物理与技术、表面分析技术、传感技术、电子材料与元器件、电光源与照明技术、电子技术应用，并涉及电子科学领域里的最新研究动态。
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