作者:简磊; 陈莹莹tiadc并行采样技术时间非均匀误差farrow结构ad9224fpga
摘要:介绍一种基于多片ADC的时间交替并行采样设计方法以及在FPGA平台上的实现。着重阐述TIADC并行采样的增益误差、时间误差校正算法及实现。实验结果表明,TIADC并行数据采集系统的结构设计和预处理算法,能较好抑制因相位偏移、时钟抖动等造成的非均匀误差。
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《电子测试》(CN:11-3927/TN)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,而为他们搭建沟通行业信息的平台,开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的优秀使命。
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