作者：陈元; 高剑单片机mcu测试测试向量
摘要：对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案。使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本。
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《电子测试》（CN：11-3927/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的优秀使命。
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