作者:黄运銮 李波 张亚 徐建军 顾强特征参数测试电路可靠性高过载
摘要:高过载测试电路必须满足高速测试的特点,文中对电阻、电容、电感及二极管等电子元器件的特征参数测试的方法进行了分析,在电子元器件的高过载实验中,设计出了相应的测试电路。通过实验验证了这些测试电路能达到预期的要求.为引信系统在高过载条件下的可靠性分析打下了坚实的基础。
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《弹箭与制导学报》(CN:61-1234/TJ)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《弹箭与制导学报》办刊宗旨是报道导弹、制导、控制、导航、弹药、火箭、弹道、气动力、模拟及相关技术领域的学术论文,报道该专业领域最新研究动态和科研成果,为该专业领域的科研、生产、教学、部队使用服务。
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